硅片分选机视觉检测应用:提升品质,助力光伏行业发展

发布时间:2023.10.20
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一、背景介绍

硅片分选机是光伏行业中必不可少的一种设备,主要用于检测硅片的尺寸、厚度、倒角、崩边、脏污、隐裂等质量指标。为了提高硅片分选机的检测精度和效率,许多企业开始引入先进的视觉检测技术,通过使用高品质光源、专业相机和精确算法,实现硅片质量的全面把控。

二、方案特点

全面检测:方案覆盖了硅片生产过程中的各个关键质量指标,确保硅片质量得到全面把控。

高效稳定:采用先进的视觉检测技术和高品质光源,实现快速、准确的硅片检测。

系统集成:方案整合了各个工位的检测功能,便于企业进行统一管理和调优。

可定制:根据企业的具体需求和生产线规模,方案可进行定制和优化。

三、应用范围

本方案适用于各类硅片生产企业,涵盖多晶硅、单晶硅等不同类型的硅片制造,同时可满足从小规模生产线到大规模生产线的视觉检测需求。此外,方案还具有良好的兼容性和可扩展性,可根据企业的具体需求进行定制和优化。

四、光源亮点

光源作为视觉检测系统中的关键组件,其性能直接影响着整个系统的检测效果。本方案针对硅片分选机的各个工位,选用了具有高品质、高亮度、高稳定性的光源,确保视觉检测系统在各个工位上的优异表现。

以下是各个工位所使用光源的亮点:

背光源检测尺寸工位:

背景介绍:这一工位的主要目的是检测硅片的尺寸和形状,传统的尺寸测量方法通常是通过目测或者机械测量,这些方法不仅效率低下,而且易受到环境光影响而出现误差。

推荐光源:采用PPX背光源,提供均匀、高亮度的照明,使相机能更清晰地捕捉硅片边缘信息,背光源在此工位的应用可以有效减少环境光的干扰,提高检测的准确性和稳定性。

倒角检测崩边检测工位:

背景介绍:这一工位的主要目的是检测硅片的倒角和崩边质量,传统的检测方法往往只能检测硅片表面明显的缺陷,无法发现细微的倒角和崩边缺陷。


推荐光源:使用PPX同轴光源,强化硅片倒角和崩边的光线反射,有效减少光线在硅片表面的反射和散射,提高图像质量和检测准确性。

侧面崩边检测工位:

背景介绍:这一工位的主要目的是检测硅片侧面的崩边质量,传统的检测方法往往无法全面检测硅片的侧面崩边,而且还容易受到光影和反光的影响。

推荐光源:选用绿色点光源和80白色同轴线光源,绿色点光源能够清晰地照射到硅片侧边正面,实现侧面崩边的检测;而上下同轴线光源分别照射到侧上方和侧下方,提供充足的照明,使得线阵相机能够捕捉到侧面崩边的细节。这种组合光源方案能够实现高效、准确的侧面崩边检测。

前后崩边检测工位:

背景介绍:这一工位的主要目的是检测硅片前后崩边的质量,传统的检测方法往往只能检测硅片表面的缺陷,无法全面检测硅片前后崩边的质量。

推荐光源:使用PPX组合线光源,为硅片的前后崩边提供均匀、明亮的照明,使线阵相机能够更清晰地捕捉到崩边的细节,提高检测的准确性和稳定性。

脏污检测工位:

背景介绍:这一工位的主要目的是检测硅片表面的脏污和杂质,传统的检测方法往往无法高效、准确地检测硅片表面的污渍和杂质。

推荐光源:采用PPX多角度隧道光,从不同角度照射到硅片表面,使得脏污部位的光线反射和散射更加明显,便于线阵相机捕捉到脏污的信息,提高检测的准确性和灵敏度。

隐裂检测工位:

背景介绍:传统的隐裂检测方法通常是通过目测或者显微镜观察硅片表面来检测隐裂缺陷,但是这种方法存在检测效率低下、准确性不高的问题。


推荐光源:使用PPX红外线光源,能够穿透硅片表面,使隐裂更容易被检测到,提高隐裂检测的准确性,确保硅片质量的全面把控。

通过采用高品质光源、专业相机和精确算法,我们助力硅片制造企业实现产品质量的全面把控,提高市场竞争力,推动光伏行业的可持续发展。

随着光伏行业的不断发展和技术进步,硅片分选机视觉检测技术的应用也将日益广泛。这种技术将进一步优化硅片制造过程,降低生产成本,提高产品品质,助力企业在市场竞争中脱颖而出。